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        蘇州法特迪科技股份有限公司歡迎您~

        首頁 > 產品展示 > 老化插座

        老化插座

        低成本,高性能老化測試標準插座

        老化插座:

              28 family Size 28x38mm

              3S family Size 38x48mm

              55 family Size 55x65mm

        適用產品尺寸:

              0.35mm(19x19 contact max)

              0.40mm(16x16 contact max)

              0.50mm(10x10 contact max)

              0.65mm(32x32 contact max)

              BGA/QFN(LGA)

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        產品介紹

        FTD標準老化系列插座。采用注塑與加工相結合的結構,具有良好的使用壽命和可靠性同時又較低客戶的采購成本。

        產品特點

        -適用Pogo PIN作為接觸部件

        -支持高頻芯片測試

        -很好的熱傳導性能與可靠性

        -出色的接觸電阻和電流承受能力

        封裝類型

        ● 球陣列封裝s:BGA, LGA, WLCSP, others – 350 μm pitch and up

        ● 引腳類封裝: QFP, SO, others – 350 μm pitch and up

        ● 無引腳封裝: QFN, others – 350 μm pitch and up


        機械性能

        ● 產品引腳間距: 0.4mm 及以上

        ● 探針彈力: 15g -40g

        ● 測試行程:0.3mm -0.65mm

        可靠性

        ● 探針使用壽命:200K

        ● 測試插座使用壽命: 5000小時

        ● 清潔頻率:50K


        使用材料

        ● socket材料: 工程塑料

        ● 彈簧探針頭材料: 合金 

        ● 彈簧材料: 彈簧鋼


        電性能

        ● 接觸電阻:100mΩ

        ● 電流承載能力:1.0A 持續電流

        ● 介電強度能力 : AC100V rms 1 min

        ● 絕緣電阻能力 : 1000MΩ min 


        使用環境

        ● 溫度范圍: -55°C - 150°C

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        郵箱:kevin@ftdevice.com

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