老化插座

低成本，高性能老化測試標準插座

老化插座:

28 family Size 28x38mm

3S family Size 38x48mm

55 family Size 55x65mm

適用產品尺寸:

0.35mm(19x19 contact max)

0.40mm(16x16 contact max)

0.50mm(10x10 contact max)

0.65mm(32x32 contact max)

BGA/QFN(LGA)

產品特點封裝類型機械性能可靠性使用材料電性能使用環境

產品介紹

FTD標準老化系列插座。采用注塑與加工相結合的結構，具有良好的使用壽命和可靠性同時又較低客戶的采購成本。

產品特點

-適用Pogo PIN作為接觸部件

-支持高頻芯片測試

-很好的熱傳導性能與可靠性

-出色的接觸電阻和電流承受能力

封裝類型

● 球陣列封裝s：BGA, LGA, WLCSP, others – 350 μm pitch and up

● 引腳類封裝： QFP, SO, others – 350 μm pitch and up

● 無引腳封裝： QFN, others – 350 μm pitch and up

機械性能

● 產品引腳間距： 0.4mm 及以上

● 探針彈力： 15g -40g

● 測試行程：0.3mm -0.65mm

可靠性

● 探針使用壽命：200K

● 測試插座使用壽命： 5000小時

● 清潔頻率：50K

使用材料

● socket材料：工程塑料

● 彈簧探針頭材料：合金

● 彈簧材料：彈簧鋼

電性能

● 接觸電阻：100mΩ

● 電流承載能力：1.0A 持續電流

● 介電強度能力 : AC100V rms 1 min

● 絕緣電阻能力 : 1000MΩ min

使用環境

● 溫度范圍: -55°C - 150°C

在線留言